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奧林巴斯OmniScan X3 64便攜式探傷儀

簡要描述:奧林巴斯OmniScan X3 64便攜式探傷儀沿用了已經現場驗證、堅固耐用、輕盈便攜的OmniScan X3外殼,其強大的聚焦功能得到了更大的晶片孔徑容量的支持,可使您充分利用64晶片相控陣探頭,進行128晶片孔徑的TFM檢測。 您可以利用這款儀器的增強性能,迎接檢測較厚、衰減性較強材料的挑戰,并提升您的潛力,為更廣泛的應用開發新程序。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2024-01-29
  • 訪  問  量:1049

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間面議
產地類別進口應用領域能源,電子,交通,汽車,電氣

奧林巴斯OmniScan X3 64便攜式探傷儀

威力強大,小巧便攜

OmniScan X3 64相控陣探傷儀沿用了已經現場驗證、堅固耐用、輕盈便攜的OmniScan X3外殼,其強大的聚焦功能得到了更大的晶片孔徑容量的支持,可使您充分利用64晶片相控陣探頭,進行128晶片孔徑的TFM檢測。 您可以利用這款儀器的增強性能,迎接檢測較厚、衰減性較強材料的挑戰,并提升您的潛力,為更廣泛的應用開發新程序。

提供創新型TFM功能的OmniScan X3相控陣探傷儀
信心滿滿,昭然可見

OmniScan X3相控陣探傷儀是一個完備的相控陣工具箱。 其性能強大的工具,包括全聚焦方式(TFM)成像和高級可視化能力,在其高質量成像功能的支持下,可使您更加充滿信心地完成檢測。


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奧林巴斯OmniScan X3 64便攜式探傷儀

提前確認TFM(全聚焦方式)聲波覆蓋范圍

聲學影響圖(AIM)工具可以基于您的TFM(全聚焦方式)模式、探頭、設置和模擬反射體,即時提供靈敏度的可視化模型。

聲學影響圖(AIM)工具消除了掃查計劃創建過程中的猜測因素,因為屏幕上會顯示某個聲波組(TFM模式)的效果圖,使您看到靈敏度消失的位置,并對掃查計劃進行相應的調整。

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用PCI查看您錯過了什么

我們創新性的無振幅實時相位相干成像(PCI)提高了對小缺陷的靈敏度和在噪聲材料中的穿透力,同時簡化了設置和尺寸調整。從MXU 5.10開始,可用于OmniScan X3 64探傷儀。

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